在高速通信、功率半導體測試及先進電子系統研發領域，信號的純凈度、同步精度與動態控制能力已成為測試成敗的關鍵。普源DG5000 Pro系列信號發生器憑借多項創新技術，重新定義了多通道信號生成的性能標準，為工程師提供了一款集高保真信號輸出、多通道同步控制與靈活測試場景適配于一體的全能型測試工具。

核心性能：2.5GSa/s采樣率與16bit垂直分辨率的極致信號還原

DG5000 Pro系列基于RIGOL自主研發的Si-Fi II信號高保真技術，實現了2.5GSa/s的采樣率與16bit垂直分辨率的突破性組合。這一配置使得設備能夠精準復現信號的微小細節，例如在功率半導體測試中，其生成的方波信號上升時間低至0.8ns，抖動僅200ps，可清晰捕捉MOSFET開關過程中的過沖與平臺電壓波動，為器件動態特性分析提供可靠數據支撐。

多通道同步：皮秒級精度與靈活延時調校

針對多通道系統仿真需求，DG5000 Pro系列提供2至8通道可選配置，通道間同步偏差優于500ps，并支持±200ns可調輸出延時。這一特性在相控陣雷達測試中表現尤為突出：工程師可通過獨立調整8個通道的相位關系，模擬波束掃描過程中的精確時序，同時利用分組隔離架構消除地環路干擾，確保信號純凈度。此外，設備內置的512步高級序列功能可一次性編排多個測試用例，將復雜測試流程的搭建時間縮短80%。

智能測試：從雙脈沖測試到光電調制的全場景覆蓋

DG5000 Pro系列深度整合了功率器件測試場景需求，其多脈沖功能支持2至30次脈沖串編輯，可快速構建雙脈沖測試（DPT）場景，直接測量IGBT/SiC MOSFET的開關損耗與反向恢復電荷。在光電調制領域，設備通過序列模式與外部觸發功能，實現了多頻段信號的動態切換：例如在光通信模塊研發中，用戶可預加載16個不同頻率的正弦波，并通過FPGA輸出的觸發信號自動切換波形，結合JUMP TO指令實現閉環頻率調整，將測試效率提升3倍。

用戶價值：降本增效與長期投資保護

相較于傳統多臺儀器組合方案，DG5000 Pro系列的8通道設計可節省三分之二的工作臺空間，同時通過選配128Mpts任意波存儲深度與WebControl遠程控制功能，滿足現場測試與自動化產線需求。其支持的電池艙供電選項更突破了市電環境限制，使外場測試成為可能。設備內置的200種標準波形與諧波發生器功能，覆蓋從基礎信號生成到復雜失真分析的全場景，單臺設備即可替代函數發生器、任意波形發生器與脈沖發生器，顯著降低測試系統總擁有成本。

行業應用：從實驗室到產業化的全鏈路支持

目前，DG5000 Pro系列已廣泛應用于新能源汽車電驅系統測試、5G基站射頻一致性驗證、量子計算測控系統等領域。某頭部半導體企業采用該系列設備搭建的自動化測試平臺，將第三代功率器件的動態參數測試周期從72小時壓縮至8小時，同時通過隔離通道設計將測試良率提升至99.97%。

在信號復雜度持續攀升的今天，普源DG5000 Pro系列信號發生器以技術創新重新定義了測試效率的邊界，成為高速數字系統、功率電子與先進通信領域不可或缺的測試利器。