吉時(shí)利2400源表在PIN硅輻射探測(cè)IV曲線測(cè)試應(yīng)用
近日，有客戶找到我們需要測(cè)PIN的IV特性，客戶反饋了解過吉時(shí)利2400系列源表測(cè)試會(huì)出現(xiàn)屏幕無法顯示曲線問題，了解客戶需求后，為了更好的完成測(cè)試，我們及時(shí)做出了一套測(cè)試方案，去客戶現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行測(cè)試，接下來為大家分享PIN硅輻射探測(cè)IV曲線的測(cè)試案例！
PIN硅輻射探測(cè)器是一種用于探測(cè)輻射的半導(dǎo)體探測(cè)器，它通常由P型硅、I型硅和N型硅層組成。PIN探測(cè)器具有高能分辨率和高探測(cè)效率的特點(diǎn)，因此在核物理實(shí)驗(yàn)、醫(yī)學(xué)成像和輻射監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。
PIN硅輻射探測(cè)器的工作原理是通過輻射粒子在探測(cè)器中產(chǎn)生的電子空穿和電子空穴引起的電荷移動(dòng)來測(cè)量輻射能量。當(dāng)輻射粒子進(jìn)入探測(cè)器時(shí)，它會(huì)與硅晶格中的原子發(fā)生相互作用，產(chǎn)生電子空穿和電子空穴。這些電荷在電場(chǎng)的作用下被分離并收集到探測(cè)器的電極上，產(chǎn)生一個(gè)電荷脈沖信號(hào)。通過測(cè)量這個(gè)信號(hào)的幅度和時(shí)間分布，可以確定輻射粒子的能量和入射位置。
為了確定PIN硅輻射探測(cè)器的性能，我們首先使用的是吉時(shí)利2400源表+kickstart上位機(jī)軟件進(jìn)行測(cè)試，在測(cè)試PIN的IV曲線時(shí)，需要將樣品放在不透光的環(huán)境中，所以在測(cè)試時(shí)，我們將樣品放在了一個(gè)密閉的盒子，一鍵測(cè)試就可完成。
吉時(shí)利2400源表+kickstart上位機(jī)軟件
測(cè)試中可看到我們采用的是吉時(shí)利2400源表+kickstart上位機(jī)軟件可順利完成測(cè)試。
此次測(cè)試我們更推薦使用2450源表進(jìn)行測(cè)試，新款2400系列圖形化系列源表在外觀上可直接看出較大的區(qū)別，它可實(shí)現(xiàn)觸屏操作，操作更加簡單，在源表屏幕上可以直接顯示IV曲線，不需要上位機(jī)就可直觀看到測(cè)試結(jié)果，操作簡單，測(cè)試便捷，所以我們更推薦2450系列源表。
以上是安泰測(cè)試為大家分享的關(guān)于PIN硅輻射探測(cè)IV曲線測(cè)試方案。安泰測(cè)試作為泰克吉時(shí)利產(chǎn)品的長期合作伙伴，專業(yè)提供設(shè)備選型和測(cè)試方案的提供，并獲得客戶的高度認(rèn)可，如您想了解吉時(shí)利源表更多產(chǎn)品應(yīng)用，歡迎關(guān)注西安安泰測(cè)試。
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