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　　芯片功能測試是電子產(chǎn)品制造過程中的一項(xiàng)重要步驟。它包括以下多個(gè)方面的測試，其中邏輯測試是比較重要的一部分：它包括功能測試、時(shí)序測試、性能測試、穩(wěn)定性測試等，主要通過檢測芯片內(nèi)部的邏輯電路是否正確、時(shí)序是否符合規(guī)定、性能是否達(dá)標(biāo)以及工作狀態(tài)是否穩(wěn)定來判斷芯片是否正常。

　　在這個(gè)測試過程中，一個(gè)滿足需求的信號(hào)是比較重要的，

　　首先檢查其外形是否完整，有無引腳脫落或者其他損壞情況。檢查完后可以接入電路，將芯片放置好之后，根據(jù)測試需要對(duì)不同引腳接入信號(hào)，信號(hào)是通過信號(hào)源（任意波發(fā)生器）來進(jìn)行實(shí)現(xiàn)的。選擇記錄輸入、輸出波形，并對(duì)波形進(jìn)行分析。運(yùn)用邏輯電平，通過電平判斷；兩種方式來判斷。

　　主要測試內(nèi)容：

　　通過信號(hào)源給邏輯芯片信號(hào)，利用示波器測量輸入輸出的脈沖信號(hào)的基本參數(shù)，進(jìn)行分析。

　　使用儀器：

　　泰克三系示波器

　　鼎陽SDG7102A信號(hào)源

　　線纜若干

　　測試需求：

　　①頻率為1kHz，4.5Vp-p，上升沿分別為為2ns，6ns的脈沖信號(hào)；

　　②能檢測最小上升時(shí)間2ns的示波器；

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　　儀器的選擇：

　　首先尋找一款能夠生成滿足信號(hào)要求的信號(hào)源：

　　信號(hào)源

　　信號(hào)源的選擇一方面得考慮可以生成滿足要求的信號(hào)，另一方面就得考慮生成信號(hào)的質(zhì)量

　　一般建議根據(jù)技術(shù)手冊(cè)查找后再實(shí)際使用儀器進(jìn)行實(shí)際輸出測試，確保理論和實(shí)際在一定范圍內(nèi)是吻合的，滿足需求。

　　示波器

　　尋找一款能夠滿足測試需求的示波器，這個(gè)就牽扯到示波器帶寬和上升時(shí)間的關(guān)系，首先要保證的就是儀器的上升時(shí)間快于信號(hào)的上升時(shí)間，那具體快多少，如何選擇呢？

　　這里就不得不提到示波器帶寬和上升時(shí)間的關(guān)系。具體來說說看

　　-3dB是按照信號(hào)的功率增益下降一半得出來的，大家都知道功率與電壓的平方成正比，故當(dāng)功率增益下降一半時(shí)，電壓隨著頻率增加降為原來的0.707倍。

　　比如給一個(gè)500MHz帶寬的示波器輸入一個(gè)500MHz，峰峰值為1V的方波信號(hào)，此時(shí)測出的結(jié)果約為0.7V，所以示波器對(duì)測量信號(hào)的幅度上也會(huì)有衰減。

　　根據(jù)上升時(shí)間的定義，幅度的誤差必然會(huì)導(dǎo)致上升時(shí)間的出錯(cuò)，從而引入了誤差。在日常使用中，對(duì)示波器測得的上升時(shí)間，必須考慮到示波器對(duì)其的影響。

　　通常來說，可以根據(jù)示波器的帶寬，引入一個(gè)示波器自身上升時(shí)間的概念Ttro，其定義為Ttro=350/BW，BW即為示波器的帶寬。對(duì)于200MHz的示波器，可得Ttro=350/200MHz=1.75ns.而對(duì)于上升時(shí)間為t的信號(hào)來說，根據(jù)經(jīng)驗(yàn)公式，可以得出測量的上升時(shí)間為：

　　滿足需求的儀器準(zhǔn)備好之后就可以進(jìn)行具體測試了

　　測試過程記錄：

　　通過對(duì)芯片引腳施加脈沖信號(hào)，觀察輸出信號(hào)，通過數(shù)據(jù)進(jìn)行分析判斷傳輸時(shí)延時(shí)間，對(duì)比芯片對(duì)照手冊(cè)判斷是否滿足參數(shù)要求。