HIOKI日置阻抗分析儀IM3570交流阻抗多通道測(cè)試方案
為了解決客戶在測(cè)試中遇到的問(wèn)題，針對(duì)客戶的需求，專門(mén)研發(fā)配套的測(cè)試系統(tǒng)，有效解決客戶測(cè)試中的疑難雜癥。
下面為大家介紹3套新推出的多通道測(cè)試方案。
1、交流阻抗測(cè)試系統(tǒng)
基于阻抗分析儀IM3570與多路轉(zhuǎn)換器ZC3001組合的10ch；
【客戶訴求】被測(cè)物體積小，且只能逐個(gè)對(duì)被測(cè)物進(jìn)行測(cè)試，手動(dòng)更換被測(cè)物既麻煩又效率低。
【解決方案】使用多路掃描測(cè)試軟件CN040，可以實(shí)現(xiàn)一次性多通道測(cè)試，支持最多10ch的測(cè)量。
對(duì)各個(gè)被測(cè)物可進(jìn)行分別設(shè)置
主要用于：電子零部件、電感、電容、共模濾波器等。可搭載半導(dǎo)體繼電器。高速又耐用。
可支持頻率：最大2 MHz
切換時(shí)間：0.5ms
2、絕緣特性測(cè)試系統(tǒng)
基于高阻計(jì)SM7120與高阻計(jì)SM7420組合的5ch；
【客戶訴求】想輸出電壓，但不想配備外部電源，而且希望能多通道測(cè)量、提高效率。
【解決方案】使用5通道絕緣檢測(cè)系統(tǒng)CN067，無(wú)需編程即可進(jìn)行多通道測(cè)試，無(wú)需外部電源即可進(jìn)行最大2000V的絕緣測(cè)試。同時(shí)軟件可實(shí)時(shí)顯示判定結(jié)果與趨勢(shì)曲線，方便用戶觀測(cè)。
絕緣電阻測(cè)試
主要用于：硅晶圓、電子零部件、電感、電容、各類絕緣材料，5ch同時(shí)測(cè)量。
測(cè)量電壓：最大2000V
測(cè)量范圍：最大2×1019
3、LiB測(cè)試系統(tǒng)
基于BT3562A與SW1001組合的132ch；
【客戶訴求】測(cè)量電池電芯的開(kāi)路電壓(OCV)、內(nèi)部電阻(AC-IR)時(shí)，如何快速追溯哪個(gè)制作工序出現(xiàn)了問(wèn)題?如何規(guī)避產(chǎn)品出貨時(shí)的人為錯(cuò)誤?如何快速找尋到電芯參數(shù)?
【解決方案】賦予電芯本體條形碼，使用多路掃描測(cè)試軟件CN015，以數(shù)據(jù)文件形式保存，規(guī)避人為輸入存在的失誤，構(gòu)建全數(shù)字化模式。通過(guò)電芯上的條形碼查詢到對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)文件中記錄的電芯參數(shù)，即可追溯到問(wèn)題工序。
鋰電池、全固體電池測(cè)試
使用SW1001(或SW1002)實(shí)現(xiàn)多通道測(cè)試。可以通過(guò)條形碼對(duì)對(duì)應(yīng)電芯進(jìn)行補(bǔ)償，測(cè)試結(jié)果與補(bǔ)償值可分別保存為數(shù)據(jù)庫(kù)文件，方便調(diào)用、查詢及管理。
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