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泰克實(shí)時(shí)頻譜儀高性?xún)r(jià)比EMI預(yù)一致性測(cè)試方案

發(fā)布日期：2022-08-09 作者: 安泰測(cè)試瀏覽數(shù)：

EMI測(cè)試是EMC測(cè)試的重要環(huán)節(jié)，也是任何電子產(chǎn)品上市之前所必要的步驟，其設(shè)計(jì)貫穿整個(gè)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)流程，要求在設(shè)計(jì)之初便需要對(duì)其進(jìn)行考慮。但是傳統(tǒng)的EMI測(cè)試往往需要專(zhuān)業(yè)的頻譜儀或者信號(hào)分析儀，并且受制與分析帶寬，往往不能很快速的捕獲異常頻段。泰克MSO4-5-6基于數(shù)字下變頻技術(shù)的頻譜視圖，使其擁有超高的捕獲帶寬，以及超快的解析速率，能夠使得工程師能夠更快速的定位問(wèn)題所在，加速測(cè)試流程。
　　EMI，既電磁干擾，指設(shè)備在工作時(shí)對(duì)外部環(huán)境的干擾現(xiàn)象。所有的電子設(shè)備都對(duì)EMI有限制，要求滿(mǎn)足規(guī)范，既不能影響其他設(shè)備的工作。

通常在設(shè)計(jì)過(guò)程中的EMI測(cè)試稱(chēng)之為Pre-EMI測(cè)試，簡(jiǎn)稱(chēng)預(yù)測(cè)試。一般情況下會(huì)使用頻譜儀和近場(chǎng)探頭進(jìn)行測(cè)試，如下圖：

泰克實(shí)時(shí)頻譜儀高性?xún)r(jià)比EMI預(yù)一致性測(cè)試方案(圖1)

　　這里是使用泰克RSA306B型號(hào)USB頻譜儀與僅場(chǎng)探頭對(duì)一電源進(jìn)行EMI測(cè)試

泰克實(shí)時(shí)頻譜儀高性?xún)r(jià)比EMI預(yù)一致性測(cè)試方案(圖2)

　　EMI測(cè)試概圖

　　由于傳統(tǒng)的頻譜儀其捕獲帶寬有限，一般為10MHz，20MHz，或者40MHz，部分高性能頻譜儀，可以做到更高，但是其高捕獲帶寬一般為選件，且有較高的成本。EMI測(cè)試的頻率范圍有一定的要求，但是也較為寬闊，一般的頻譜儀測(cè)試則會(huì)進(jìn)入Scan或者Step的模式，整個(gè)測(cè)試需要很長(zhǎng)的掃描周期，有時(shí)會(huì)高達(dá)數(shù)小時(shí)。這對(duì)于設(shè)計(jì)階段是不可接受的。而示波器的FFT功能，則受限于采樣率和存儲(chǔ)深度。若要觀測(cè)到很高的頻率，要求很高采樣率的同時(shí)又要求有足夠的樣點(diǎn)供以計(jì)算，難以實(shí)現(xiàn)。

泰克MSO4-5-6系列采用了基于硬件的DDC技術(shù)，且時(shí)域與頻域并行處理架構(gòu)，大大的提高了測(cè)試速度。

泰克實(shí)時(shí)頻譜儀高性?xún)r(jià)比EMI預(yù)一致性測(cè)試方案(圖3)