4200-SCS 半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)
4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)是用于器件、材料和半導(dǎo)體工藝參數(shù)分析的完整解決方案。這種先進(jìn)的參數(shù)分析儀具有無(wú)可比擬的測(cè)量靈敏度和精度，同時(shí)繼承了嵌入式Windows操作系統(tǒng)和吉時(shí)利交互式測(cè)試環(huán)境
廠商名稱：吉時(shí)利/KEITHLEY
產(chǎn)品型號(hào)：4200-SCS
市場(chǎng)價(jià)格：￥0.0 (僅供參考)
貨期：現(xiàn)貨
- 詳細(xì)說(shuō)明
- 產(chǎn)品手冊(cè)
4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)采用了模塊化、可配置、可升級(jí)的架構(gòu)。這使得它能夠準(zhǔn)確滿足當(dāng)前的測(cè)量需求，也可以模塊擴(kuò)展以滿足后續(xù)的需求。
支持多達(dá)9個(gè)精密直流源測(cè)量單元，能夠提供測(cè)量0.1fA到1A的電流或者1uV-210V的電壓；
利用4210-CVU?-V）模塊可以方便的在1KHz-10MHz測(cè)試頻率下進(jìn)行交流阻抗測(cè)試，可以測(cè)量的電容范圍從aF級(jí)到uF級(jí)；
利用可選的4225-PMU超快I-V模塊可以進(jìn)行脈沖和瞬態(tài)測(cè)量。
吉時(shí)利交互式測(cè)試環(huán)境（KITE）提供了一套完整的圖形用戶界面，無(wú)需編程即可支持幾乎所有類(lèi)型的特性分析測(cè)試。它提供了多達(dá)456種標(biāo)準(zhǔn)的特性分析測(cè)試庫(kù)，包括MOSFET、BJT晶體管、二極管、電阻器、電容器、太陽(yáng)能電池、碳納米管和NVM存儲(chǔ)器，例如Flash、PRAM、PCRAM等。
配備可滿足各類(lèi)測(cè)試要求的高性價(jià)比探針臺(tái)系統(tǒng)。
技術(shù)支持
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