CH-8|8"~12"綜合性分析探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)

　　特點(diǎn)/應(yīng)用

　　◆最大可用于12英寸以?xún)?nèi)樣品測(cè)試

　　◆同軸絲杠傳動(dòng)結(jié)構(gòu)，線性移動(dòng)

　　◆大手柄驅(qū)動(dòng)，操作舒適，無(wú)回程差設(shè)計(jì)

　　◆針座平臺(tái)快速、微調(diào)升降功能

　　◆可搭配多種類(lèi)型顯微鏡

　　◆晶片測(cè)試、光電器件測(cè)試、PCB/IC測(cè)試、射頻測(cè)試、高壓大電流測(cè)試等

　　◆結(jié)構(gòu)模塊化設(shè)計(jì)，可無(wú)縫升級(jí)

　　◆探針臺(tái)可根據(jù)客戶(hù)要求定制。

　　可選附件：加熱臺(tái)顯示器轉(zhuǎn)接頭射頻測(cè)試配件屏蔽箱光學(xué)平臺(tái)鍍金卡盤(pán)光電測(cè)試配件高壓測(cè)試配件顯微鏡快速傾仰裝置激光系統(tǒng)探針卡夾具

　　規(guī)格及設(shè)計(jì)如有更改，恕不另行通知。